Das Thickness-Star FE 2.0 ist ein handliches Schichtdickmessgerät für präzise und zerstörungsfreie Messung von Kupferschichtdicken und mit einer einzigen Taste, sowie der selbsterklärenden, mehrsprachigen Menüführung einfach zu bedienen. Es erhöht die Sicherheit, dass die zu bearbeitende Kupferschichtdicke nicht unterschritten wird. Dadurch sind die Schneidplättchen keinem unnötigen Verschleiß ausgesetzt.
Thickness-Star FE 2.0
Klein wie eine Sonde - Schichtdicke messen einfach gemacht
Die Weiterverarbeitung Ihrer Messdaten erfolgt neu durch Kommunikation mit Android- oder iOS-Geräten oder einem Windows-PC. Die dazugehörige, kostenlose App ermöglicht das Verwalten von Projekten, das Zuordnen von Messpunkten auf Fotos, sowie die statistische Analyse und grafische Darstellung der Messergebnisse.
MERKMALE
- Klein wie eine Sonde
- Messsonde schwenkbar um 90°
- Robustes Leichtmetallgehäuse (IP 64) schützt vor Staub und Spritzwasser
- Kontrastreich beleuchtete OLED Grafik-Anzeige mit Bedienungsführung
Weitere Informationen
Die ausführliche Broschüre steht für Sie auch als PDF-Dokument zum Herunterladen bereit:
Thickness-Star FE 2.0
Sie können uns auch direkt unter parts@daetwyler-graphics.ch kontaktieren.
TECHNISCHE SPEZIFIKATIONEN und Bestellnummern
TECHNISCHE SPEZIFIKATIONEN
Messverfahren
Kalibrierwert
Auflösung
Genauigkeit
Schnittstelle
Stromversorgung
Lieferumfang
magnetinduktiv auf Eisen und Stahl
300 μm
1 – 100 μm: 0.1 μm
100 – 1000 μm: 1 μm
> 1000 μm: 10 μm
< 100 μm: +/- 1 μm
100 – 1000 μm: +/- 1 %
1000 – 2000 μm: +/- 3 %
> 2000 μm: +/- 5 %
Bluetooth Low Energy Schnittstelle zur Kommunikation mit Android, iOS und Windows
1 x 1.5 V AA Mignon-Batterie (nicht enthalten)
Kalibrierinsel, Bedienungsanleitung, handlicher Koffer
Zubehör - Bestellnummern
605185 | Thickness-Star FE 2.0