Thickness-Star FE

Schichtdicke messen einfach gemacht

In der Kupfergalvanik ist es technisch, wie auch ökonomisch entscheidend, welche Schichtdicke auf dem jeweiligen Ballen aufgetragen wird. Das Thickness-Star FE von Daetwyler Graphics ist ein handliches und robustes Schichtdickmessgerät für präzise und zerstörungsfreie Messung von Kupferschichtdicken. Die Verwendung des Thickness-Star FE erhöht die Sicherheit, dass die zu bearbeitende Kupferschichtdicke nicht unterschritten wird. Dadurch sind die Schneidplättchen keinem unnötigen Verschleiss ausgesetzt.

MERKMALE

  • Klein wie eine Sonde
  • Robustes Leichtmetallgehäuse (IP 64) schützt vor Staub und Spritzwasser
  • Kontrastreich beleuchtete OLED Grafik-Anzeige mit Bedienungsführung

Weitere Informationen

Die ausführliche Broschüre steht für Sie auch als PDF-Dokument zum Herunterladen bereit:

Thickness-Star FE

 

Sie können uns auch direkt unter parts@daetwyler-graphics.ch kontaktieren.

TECHNISCHE SPEZIFIKATIONEN und Bestellnummern

TECHNISCHE SPEZIFIKATIONEN

Messverfahren

Auflösung

 

 

Genauigkeit

 

 

 

Stromversorgung

Gewicht

Lieferumfang

magnetinduktiv auf Eisen und Stahl

< 100 μm: 0.1 μm

< 1000 μm:  1 μm

ab 1.00 mm: 0.1 mm

< 100 μm: +/- 1 μm

100 – 1000 μm:  +/- 1 %

1000 – 2000 μm: +/- 3 %

2000 μm: +/- 5 %

1 x 1.5 V Mignon-Batterie (nicht enthalten)

ca. 72 g

Kalibrierinsel, Bedienungsanleitung, handlicher Koffer

Zubehör - Bestellnummern

600549 | Thickness-Star FE