In der Kupfergalvanik ist es technisch, wie auch ökonomisch entscheidend, welche Schichtdicke auf dem jeweiligen Ballen aufgetragen wird. Das Thickness-Star FE von Daetwyler Graphics ist ein handliches und robustes Schichtdickmessgerät für präzise und zerstörungsfreie Messung von Kupferschichtdicken. Die Verwendung des Thickness-Star FE erhöht die Sicherheit, dass die zu bearbeitende Kupferschichtdicke nicht unterschritten wird. Dadurch sind die Schneidplättchen keinem unnötigen Verschleiss ausgesetzt.
Thickness-Star FE
Schichtdicke messen einfach gemacht
MERKMALE
- Klein wie eine Sonde
- Robustes Leichtmetallgehäuse (IP 64) schützt vor Staub und Spritzwasser
- Kontrastreich beleuchtete OLED Grafik-Anzeige mit Bedienungsführung
Weitere Informationen
Die ausführliche Broschüre steht für Sie auch als PDF-Dokument zum Herunterladen bereit:
Thickness-Star FE
Sie können uns auch direkt unter parts@daetwyler-graphics.ch kontaktieren.
TECHNISCHE SPEZIFIKATIONEN und Bestellnummern
TECHNISCHE SPEZIFIKATIONEN
Messverfahren
Auflösung
Genauigkeit
Stromversorgung
Gewicht
Lieferumfang
magnetinduktiv auf Eisen und Stahl
< 100 μm: 0.1 μm
< 1000 μm: 1 μm
ab 1.00 mm: 0.1 mm
< 100 μm: +/- 1 μm
100 – 1000 μm: +/- 1 %
1000 – 2000 μm: +/- 3 %
2000 μm: +/- 5 %
1 x 1.5 V Mignon-Batterie (nicht enthalten)
ca. 72 g
Kalibrierinsel, Bedienungsanleitung, handlicher Koffer
Zubehör - Bestellnummern
600549 | Thickness-Star FE